原因是測量點只有一個，很難清楚地識別位置。
另外，我想避免接觸測量，如果可能的話，這可能會導(dǎo)致劃痕。尤其是半導(dǎo)體曝光機的大口徑鏡頭，
玻璃材質(zhì)是有原因的，但要求光學(xué)性能最高，
壁厚公差嚴格。
測量的另一個原因是為了
響應(yīng)在鏡片加工過程中（特別是在初始階段）測量壁厚的要求。如您所知，被稱為難玻璃
材料的軟玻璃材料，由于晶體取向的問題，具有被快速刮掉的特性。此外，材料成本
高，我們希望減少加工錯誤。此外，使用其他公司的測量光通過樣品正面和背面的
反射光測量壁厚的設(shè)備無法進行此測量。
* 由于測量粗糙表面時物體之間的距離會有輕微誤差，
建議使用四邊形位移計或在表面涂油。
